Развитие современного высокотехнологичного производства предполагает современные инструменты контроля. Чаще других наших приборов микроэлектронная промышленность использует рентгеновский дифрактометр «Дифрей-401М», микроскоп-микрозонд «РАМ-30μ».

Примеры применения микроскопа-микрозонда «РАМ-30μ»:

1. Исследование светодиодов

2. Определение толщин нанослоев металлизации для диодов Шоттки

3. Исследование печатной платы

Примеры применения анализатора «РЕАН»:

1. Рентгенофлуоресцентный анализ полупроводниковых материалов

2. Рентгенофлуоресцентный анализ продукции химического синтеза
Методика качественного и количественного контроля технологического процесса синтеза квантовых точек сложного состава. Определение Cd, Zn и S в жидких и твердых фазах при коллоидном синтезе.

3. Рентгенофлуоресцентный анализ для определения толщины покрытий

4. Рентгенофлуоресцентный анализ эпитаксиальных гетероструктур арсенидов галлия, индия и алюминия

Пример применения дифрактометра «Дифрей»:

Определение толщины тонких пленок при помощи дифрактометра Дифрей