Микроэлектроника
Мониторинг процессов производства, контроль продукции.
Развитие современного высокотехнологичного производства предполагает современные инструменты контроля. Чаще других наших приборов микроэлектронная промышленность использует рентгеновский дифрактометр «Дифрей-401М», микроскоп-микрозонд «РАМ-30μ».
Примеры применения микроскопа-микрозонда «РАМ-30μ»:
2. Определение толщин нанослоев металлизации для диодов Шоттки
3. Исследование печатной платы
Примеры применения анализатора «РЕАН»:
1. Рентгенофлуоресцентный анализ полупроводниковых материалов
2. Рентгенофлуоресцентный анализ продукции химического синтеза
Методика качественного и количественного контроля технологического процесса синтеза квантовых точек сложного состава. Определение Cd, Zn и S в жидких и твердых фазах при коллоидном синтезе.
3. Рентгенофлуоресцентный анализ для определения толщины покрытий
4. Рентгенофлуоресцентный анализ эпитаксиальных гетероструктур арсенидов галлия, индия и алюминия
Реан
Дифрей 401
РАМ 30-μ